Electrical Characterization of Silicon-on-insulator Materials and Devices - the Springer International Series in Engineering and Computer Science - Sorin Cristoloveanu - Bøger - Kluwer Academic Publishers - 9780792395485 - 30. juni 1995
Ved uoverensstemmelse mellem cover og titel gælder titel

Sorin Cristoloveanu
Electrical Characterization of Silicon-on-insulator Materials and Devices - the Springer International Series in Engineering and Computer Science 1995 edition

Pris
Ft 87.033

Bestilles fra fjernlager

Forventes klar til forsendelse 1. - 5. dec.
Julegaver kan byttes frem til 31. januar

Vores kunder siger:

14 dages fuld returret
Topvurdering på Trustpilot
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
eller

Findes også som:

Describes a variety of electrical characterization methods, from wafer screening and defect identification to detailed device evaluation. This book provides a comprehensive treatment of different aspects of SOI technologies, including material synthesis, device physics, characterization, circuit applications, and reliability issues.

396 pages, biography

Medie Bøger     Hardcover bog   (Bog med hård ryg og stift omslag)
Udgivet 30. juni 1995
ISBN13 9780792395485
Forlag Kluwer Academic Publishers
Antal sider 396
Mål 156 × 234 × 22 mm   ·   734 g
Sprog Engelsk  
Vis alle

Mere med Sorin Cristoloveanu

Se alt med Sorin Cristoloveanu ( f.eks. Hardcover bog og Paperback Bog )