
Fortæl dine venner om denne vare:
Atom Probe Microscopy - Springer Series in Materials Science 2012 edition
Baptiste Gault
Pris
DKK 2.100
Bestilles fra fjernlager
Forventes klar til forsendelse 30. jul. - 5. aug.
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
Eller
Findes også som:
Atom Probe Microscopy - Springer Series in Materials Science 2012 edition
Baptiste Gault
This book covers all facets of atom probe microscopy-including field ion microscopy, field desorption microscopy and a strong emphasis on atom probe tomography. Atom Probe Microscopy is aimed at researchers of all experience levels.
490 pages, 78 black & white illustrations, 116 colour illustrations, 24 black & white tables, 3 colo
Medie | Bøger Hardcover bog (Bog med hård ryg og stift omslag) |
Udgivet | 14. maj 2012 |
ISBN13 | 9781461434351 |
Forlag | Springer-Verlag New York Inc. |
Antal sider | 396 |
Mål | 180 × 244 × 21 mm · 748 g |
Sprog | Engelsk |
Se alt med Baptiste Gault ( f.eks. Hardcover bog og Paperback Bog )