Fortæl dine venner om denne vare:
Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology - NATO Science Series II Softcover reprint of the original 1st ed. 2000 edition
Gianfranco Pacchioni
Pris
Mex$ 5.318,75
Bestilles fra fjernlager
Forventes klar til forsendelse 17. - 25. jul.
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
Eller
Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology - NATO Science Series II Softcover reprint of the original 1st ed. 2000 edition
Gianfranco Pacchioni
Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Erice, Italy, April 8-20, 2000
624 pages, 87 black & white illustrations, biography
| Medie | Bøger Paperback Bog (Bog med blødt omslag og limet ryg) |
| Udgivet | 31. december 2000 |
| ISBN13 | 9780792366867 |
| Forlag | Springer |
| Antal sider | 624 |
| Mål | 153 × 234 × 20 mm · 875 g |
| Sprog | Engelsk |
| Klipper/redaktør | Griscom, David L. |
| Klipper/redaktør | Pacchioni, Gianfranco |
| Klipper/redaktør | Skuja, Linards |
Vis alle
Mere med Gianfranco Pacchioni
![Cover for Gianfranco Pacchioni · Cluster Models for Surface and Bulk Phenomena - NATO Science Series B (Paperback Bog) [Softcover reprint of the original 1st ed. 1992 edition] (2012)](https://imusic.b-cdn.net/images/item/original/230/9781468460230.jpg?gianfranco-pacchioni-2012-cluster-models-for-surface-and-bulk-phenomena-nato-science-series-b-paperback-bog&class=scaled&v=1428412579)
Se alt med Gianfranco Pacchioni ( f.eks. Bog og Paperback Bog )