
Fortæl dine venner om denne vare:
Assessing Fault Model and Test Quality - The Springer International Series in Engineering and Computer Science 1992 edition
Kenneth M. Butler
Pris
¥ 19.862,50
Bestilles fra fjernlager
Forventes klar til forsendelse 7. - 13. aug.
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
Eller
Findes også som:
Assessing Fault Model and Test Quality - The Springer International Series in Engineering and Computer Science 1992 edition
Kenneth M. Butler
For many years, the dominant fault model in automatic test pattern gen eration (ATPG) for digital integrated circuits has been the stuck-at fault model.
132 pages, biography
Medie | Bøger Hardcover bog (Bog med hård ryg og stift omslag) |
Udgivet | 31. oktober 1991 |
ISBN13 | 9780792392224 |
Forlag | Springer |
Antal sider | 132 |
Mål | 155 × 235 × 11 mm · 399 g |
Sprog | Engelsk |
Se alt med Kenneth M. Butler ( f.eks. Hardcover bog og Paperback Bog )