An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science - IOP Concise Physics - Sarah Fearn - Bøger - Morgan & Claypool Publishers - 9781643279107 - 16. oktober 2015
Ved uoverensstemmelse mellem cover og titel gælder titel

An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science - IOP Concise Physics

Sarah Fearn

Pris
R$ 957,38

Bestilles fra fjernlager

Forventes klar til forsendelse 5. - 12. aug.

Vores kunder siger:

14 dages fuld returret
Topvurdering på Trustpilot
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
Eller

An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science - IOP Concise Physics

66 pages

Medie Bøger     Hardcover bog   (Bog med hård ryg og stift omslag)
Udgivet 16. oktober 2015
ISBN13 9781643279107
Forlag Morgan & Claypool Publishers
Antal sider 66
Mål 340 g

Se alt med Sarah Fearn ( f.eks. Hardcover bog og Paperback Bog )