Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics - - Bøger - Springer Nature Switzerland AG - 9783030156114 - 24. august 2019
Ved uoverensstemmelse mellem cover og titel gælder titel

Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics 1st ed. 2019 edition

Få en e-mail når varen bliver tilgængelig
Har du en konto? Log ind

Vores kunder siger:

14 dages fuld returret
Topvurdering på Trustpilot
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
eller

Ikke bedømt endnu

The tremendous impact of electronic devices on our lives is the result of continuous improvements of the billions of nanoelectronic components inside integrated circuits (ICs). This book reviews the latest progress in IC devices, with emphasis on the impact of electrical atomic force microscopy (AFM) techniques for their development.

408 pages, 60 Tables, color; 230 Illustrations, color; 26 Illustrations, black and white; XX, 408 p.

Medie Bøger     Bog
Udgivet 24. august 2019
ISBN13 9783030156114
Forlag Springer Nature Switzerland AG
Antal sider 408
Mål 150 × 220 × 20 mm   ·   805 g
Sprog Tysk  
Klipper/redaktør Celano, Umberto

Mere med samme udgiver