Fortæl dine venner om denne vare:
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults 1st ed. 2019 edition
Ireneusz Mrozek
Pris
SEK 659
Bestilles fra fjernlager
Forventes klar til forsendelse 28. okt. - 3. nov.
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
eller
Findes også som:
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults 1st ed. 2019 edition
Ireneusz Mrozek
This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory.
135 pages, 50 Tables, color; 34 Illustrations, black and white; X, 135 p. 34 illus.
| Medie | Bøger Hardcover bog (Bog med hård ryg og stift omslag) |
| Udgivet | 18. juli 2018 |
| ISBN13 | 9783319912035 |
| Forlag | Springer International Publishing AG |
| Antal sider | 135 |
| Mål | 454 g |
| Sprog | Fransk |
Se alt med Ireneusz Mrozek ( f.eks. Paperback Bog og Hardcover bog )