
Fortæl dine venner om denne vare:
X-Ray Multiple-Wave Diffraction: Theory and Application - Springer Series in Solid-State Sciences 2004 edition
Shih-Lin Chang
Pris
zł 729,90
Bestilles fra fjernlager
Forventes klar til forsendelse 21. - 27. aug.
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
Eller
Findes også som:
X-Ray Multiple-Wave Diffraction: Theory and Application - Springer Series in Solid-State Sciences 2004 edition
Shih-Lin Chang
X-ray multiple-wave diffraction, sometimes called multiple diffraction or N-beam diffraction, results from the scattering of X-rays from periodic two or higher-dimensional structures, like 2-d and 3-d crystals and even quasi crystals.
436 pages, biography
Medie | Bøger Hardcover bog (Bog med hård ryg og stift omslag) |
Udgivet | 24. juni 2004 |
ISBN13 | 9783540211969 |
Forlag | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm |
Antal sider | 436 |
Mål | 156 × 234 × 25 mm · 807 g |
Sprog | Tysk |
Se alt med Shih-Lin Chang ( f.eks. Hardcover bog og Paperback Bog )