Fortæl dine venner om denne vare:
Parameterextraktion bei Halblei Baumann German, 2012 edition
Har du en konto? Log ind
Modtag notifikation om nye Baumann udgivelser
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
eller
Parameterextraktion bei Halblei
Baumann
Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler.
| Medie | Bøger Bog |
| Udgivet | 29. september 2012 |
| ISBN13 | 9783834824943 |
| Forlag | Springer Fachmedien Wiesbaden |
| Antal sider | 148 |
| Mål | 150 × 220 × 20 mm · 259 g |
| Sprog | Tysk |