Parameterextraktion bei Halblei - Baumann - Bøger - Springer Fachmedien Wiesbaden - 9783834824943 - 29. september 2012
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Parameterextraktion bei Halblei German, 2012 edition


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Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler.

Medie Bøger     Bog
Udgivet 29. september 2012
ISBN13 9783834824943
Forlag Springer Fachmedien Wiesbaden
Antal sider 148
Mål 150 × 220 × 20 mm   ·   259 g
Sprog Tysk  

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