Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models - Bernstein, Joseph (Ariel University, Ariel, Israel.) - Bøger - Elsevier Science Publishing Co Inc - 9780128007471 - 21. marts 2014
Ved uoverensstemmelse mellem cover og titel gælder titel

Bernstein, Joseph (Ariel University, Ariel, Israel.)
Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models

Pris
DKK 621

Bestilles fra fjernlager

Forventes klar til forsendelse 8. - 15. jan. 2026
Julegaver kan byttes frem til 31. januar

Vores kunder siger:

14 dages fuld returret
Topvurdering på Trustpilot
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
eller

Helps you educate chip and system designers on a method for accurately predicting circuit and system reliability in order to estimate failures that will occur in the field as a function of operating conditions at the chip level.

108 pages, black & white illustrations

Medie Bøger     Paperback Bog   (Bog med blødt omslag og limet ryg)
Udgivet 21. marts 2014
ISBN13 9780128007471
Forlag Elsevier Science Publishing Co Inc
Antal sider 108
Mål 154 × 228 × 6 mm   ·   154 g

Se alt med Bernstein, Joseph (Ariel University, Ariel, Israel.) ( f.eks. Paperback Bog )