Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology - NATO Science Series II - L Skuja - Bøger - Springer - 9780792366850 - 31. december 2000
Ved uoverensstemmelse mellem cover og titel gælder titel

Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology - NATO Science Series II 2000 edition

L Skuja

Pris
Mex$ 4.961,25

Bestilles fra fjernlager

Forventes klar til forsendelse 22. - 28. jul.

Vores kunder siger:

14 dages fuld returret
Topvurdering på Trustpilot
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
Eller

Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology - NATO Science Series II 2000 edition

Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Erice, Italy, April 8-20, 2000

624 pages, 87 black & white illustrations, biography

Medie Bøger     Hardcover bog   (Bog med hård ryg og stift omslag)
Udgivet 31. december 2000
ISBN13 9780792366850
Forlag Springer
Antal sider 624
Mål 155 × 235 × 34 mm   ·   1,06 kg
Sprog Engelsk  
Klipper/redaktør Griscom, David L.
Klipper/redaktør Pacchioni, Gianfranco
Klipper/redaktør Skuja, Linards

Se alt med L Skuja ( f.eks. Hardcover bog )