Fortæl dine venner om denne vare:
CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - MRS Proceedings
Pris
DKK 374
Bestilles fra fjernlager
Forventes klar til forsendelse 14. - 26. okt.
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
eller
Findes også som:
CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - MRS Proceedings
The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.
194 pages, black & white illustrations
| Medie | Bøger Paperback Bog (Bog med blødt omslag og limet ryg) |
| Udgivet | 5. juni 2014 |
| ISBN13 | 9781107408326 |
| Forlag | Cambridge University Press |
| Antal sider | 194 |
| Mål | 152 × 229 × 10 mm · 412 g (Estimeret vægt) |
| Sprog | Engelsk |
| Klipper/redaktør | Butterbaugh, Jeffery W. |
| Klipper/redaktør | Demkov, Alexander A. (University of Texas, Austin) |
| Klipper/redaktør | Harris, H. Rusty (Texas A & M University) |
| Klipper/redaktør | Rachmady, Willy |
| Klipper/redaktør | Taylor, Bill |
