Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications - Weilie Zhou - Bøger - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441922090 - 29. oktober 2010
Ved uoverensstemmelse mellem cover og titel gælder titel

Weilie Zhou
Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2007 edition

Pris
DKK 1.938

Bestilles fra fjernlager

Forventes klar til forsendelse 6. - 12. okt.
Modtag notifikation om nye Weilie Zhou udgivelser

Vores kunder siger:

14 dages fuld returret
Topvurdering på Trustpilot
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
eller

Ikke bedømt endnu

Findes også som:

This book presents scanning electron microscopy (SEM) fundamentals and applications for nanotechnology. It includes integrated fabrication techniques using the SEM, such as e-beam and FIB, and it covers in-situ nanomanipulation of materials. The book will appeal to nanomaterials researchers, and to SEM development specialists.

538 pages, black & white illustrations

Medie Bøger     Paperback Bog   (Bog med blødt omslag og limet ryg)
Udgivet 29. oktober 2010
ISBN13 9781441922090
Forlag Springer-Verlag New York Inc.
Antal sider 522
Mål 155 × 235 × 27 mm   ·   743 g
Sprog Engelsk  
Klipper/redaktør Wang, Zhong Lin
Klipper/redaktør Zhou, Weilie

Mere med samme udgiver

Se alt med Weilie Zhou