Fortæl dine venner om denne vare:
Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents - NanoScience and Technology Adam Foster Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2006 edition
Pris
DKK 1.276
Bestilles fra fjernlager
Forventes klar til forsendelse 17. - 23. sep.
Modtag notifikation om nye Adam Foster udgivelser
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
eller
Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents - NanoScience and Technology
Adam Foster
Scanning Probe Microscopy provides a comprehensive source of information for researchers, teachers, and graduate students about the rapidly expanding field of scanning probe theory.
282 pages, biography
| Medie | Bøger Paperback Bog (Bog med blødt omslag og limet ryg) |
| Udgivet | 23. november 2010 |
| ISBN13 | 9781441923066 |
| Forlag | Springer-Verlag New York Inc. |
| Antal sider | 282 |
| Mål | 155 × 235 × 16 mm · 417 g |
| Sprog | Engelsk |