High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability - Stephan Eggersgluss - Bøger - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441999757 - 31. januar 2012
Ved uoverensstemmelse mellem cover og titel gælder titel

High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability 2012 edition

Pris
DKK 841

Bestilles fra fjernlager

Forventes klar til forsendelse 30. sep. - 6. okt.
Modtag notifikation om nye Stephan Eggersgluss udgivelser
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
eller

Ikke bedømt endnu

Findes også som:

This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel techniques to complement classical ATPG, based on Boolean Satisfiability (SAT). It presents a fast and highly fault efficient SAT-based ATPG framework.


193 pages, 52 black & white tables, biography

Medie Bøger     Hardcover bog   (Bog med hård ryg og stift omslag)
Udgivet 31. januar 2012
Oprindeligt udgivet 2011
ISBN13 9781441999757
Forlag Springer-Verlag New York Inc.
Antal sider 193
Mål 155 × 235 × 12 mm   ·   476 g
Sprog Engelsk  

Mere med samme udgiver