Fortæl dine venner om denne vare:
High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability Stephan Eggersgluss 2012 edition
Pris
DKK 841
Bestilles fra fjernlager
Forventes klar til forsendelse 30. sep. - 6. okt.
Modtag notifikation om nye Stephan Eggersgluss udgivelser
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
eller
Findes også som:
High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability
Stephan Eggersgluss
This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel techniques to complement classical ATPG, based on Boolean Satisfiability (SAT). It presents a fast and highly fault efficient SAT-based ATPG framework.
193 pages, 52 black & white tables, biography
| Medie | Bøger Hardcover bog (Bog med hård ryg og stift omslag) |
| Udgivet | 31. januar 2012 |
| Oprindeligt udgivet | 2011 |
| ISBN13 | 9781441999757 |
| Forlag | Springer-Verlag New York Inc. |
| Antal sider | 193 |
| Mål | 155 × 235 × 12 mm · 476 g |
| Sprog | Engelsk |