Hierarchical Modeling for Vlsi Circuit Testing - the Springer International Series in Engineering and Computer Science - Debashis Bhattacharya - Bøger - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461288190 - 26. september 2011
Ved uoverensstemmelse mellem cover og titel gælder titel

Hierarchical Modeling for Vlsi Circuit Testing - the Springer International Series in Engineering and Computer Science Softcover Reprint of the Original 1st Ed. 1990 edition

Debashis Bhattacharya

Pris
₩ 186.500

Bestilles fra fjernlager

Forventes klar til forsendelse 5. - 11. aug.

Vores kunder siger:

14 dages fuld returret
Topvurdering på Trustpilot
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
Eller

Hierarchical Modeling for Vlsi Circuit Testing - the Springer International Series in Engineering and Computer Science Softcover Reprint of the Original 1st Ed. 1990 edition

160 pages, biography

Medie Bøger     Paperback Bog   (Bog med blødt omslag og limet ryg)
Udgivet 26. september 2011
ISBN13 9781461288190
Forlag Springer-Verlag New York Inc.
Antal sider 160
Mål 155 × 235 × 10 mm   ·   254 g
Sprog Engelsk  
Vis alle

Mere med Debashis Bhattacharya

Se alt med Debashis Bhattacharya ( f.eks. CD , DVD , Hardcover bog og Paperback Bog )