IDDQ Testing of VLSI Circuits - Ravi K Gulati - Bøger - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461363774 - 12. oktober 2012
Ved uoverensstemmelse mellem cover og titel gælder titel

IDDQ Testing of VLSI Circuits Softcover reprint of the original 1st ed. 1993 edition

Ravi K Gulati

Pris
Mex$ 2.523,75

Bestilles fra fjernlager

Forventes klar til forsendelse 21. - 27. aug.

Vores kunder siger:

14 dages fuld returret
Topvurdering på Trustpilot
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
Eller

Findes også som:

IDDQ Testing of VLSI Circuits Softcover reprint of the original 1st ed. 1993 edition

Power supply current monitoring to detect CMOS IC defects during production testing quietly laid down its roots in the mid-1970s. New results on test generation, fault simulation, design for testability, built-in self-test, and diagnosis for this style of testing have since been reported.

128 pages, biography

Medie Bøger     Paperback Bog   (Bog med blødt omslag og limet ryg)
Udgivet 12. oktober 2012
ISBN13 9781461363774
Forlag Springer-Verlag New York Inc.
Antal sider 124
Mål 178 × 254 × 7 mm   ·   240 g
Sprog Engelsk  
Klipper/redaktør Gulati, Ravi K.
Klipper/redaktør Hawkins, Charles F.

Se alt med Ravi K Gulati ( f.eks. Hardcover bog og Paperback Bog )