Multi-Chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing - - Bøger - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461377986 - 4. oktober 2012
Ved uoverensstemmelse mellem cover og titel gælder titel

Multi-Chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of the original 1st ed. 1997 edition

Pris
DKK 862

Bestilles fra fjernlager

Forventes klar til forsendelse 28. sep. - 2. okt.

Vores kunder siger:

14 dages fuld returret
Topvurdering på Trustpilot
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
eller

Ikke bedømt endnu

This volume of original research is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers looking for leading edge test and design-for-testability solutions for their next designs.

167 pages, biography

Medie Bøger     Paperback Bog   (Bog med blødt omslag og limet ryg)
Udgivet 4. oktober 2012
ISBN13 9781461377986
Forlag Springer-Verlag New York Inc.
Antal sider 167
Mål 150 × 220 × 10 mm   ·   369 g
Sprog Engelsk  
Klipper/redaktør Zorian, Yervant

Mere med samme udgiver