Quantitative X-Ray Diffractometry - Lev S. Zevin - Bøger - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461395379 - 27. december 2011
Ved uoverensstemmelse mellem cover og titel gælder titel

Lev S. Zevin
Quantitative X-Ray Diffractometry Softcover reprint of the original 1st ed. 1995 edition

Pris
DKK 862

Bestilles fra fjernlager

Forventes klar til forsendelse 16. - 22. jun.

Vores kunder siger:

14 dages fuld returret
Topvurdering på Trustpilot
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
eller

One of the most important techniques for determining the atomic structure of a material is X-ray diffraction. Quantitative X-ray analysis provides one way to resolve this phase problem: mixing the material in question with a material of known structure yields interferences that can be analyzed to yield the unknown phases.

398 pages, biography

Medie Bøger     Paperback Bog   (Bog med blødt omslag og limet ryg)
Udgivet 27. december 2011
ISBN13 9781461395379
Forlag Springer-Verlag New York Inc.
Antal sider 372
Mål 170 × 244 × 20 mm   ·   630 g
Sprog Engelsk  
Klipper/redaktør Mureinik, Inez

Mere med samme udgiver

Se alt med Lev S. Zevin ( f.eks. Paperback Bog )