Fortæl dine venner om denne vare:
Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 2 Otto Meyer Softcover reprint of the original 1st ed. 1976 edition
Pris
DKK 449
Bestilles fra fjernlager
Forventes klar til forsendelse 14. - 20. okt.
Modtag notifikation om nye Otto Meyer udgivelser
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
eller
Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 2
Otto Meyer
The major topic of that and the present conference was the material analysis with ion beams including backscattering and channeling, nuclear reactions and ion induced X-rays with emphasis on technical problems and no vel applications.
508 pages, biography
| Medie | Bøger Paperback Bog (Bog med blødt omslag og limet ryg) |
| Udgivet | 30. januar 2012 |
| ISBN13 | 9781461588818 |
| Forlag | Springer-Verlag New York Inc. |
| Antal sider | 491 |
| Mål | 178 × 254 × 26 mm · 879 g |
| Sprog | Engelsk |
| Klipper/redaktør | Meyer, Otto |