Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 2 - Otto Meyer - Bøger - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461588818 - 30. januar 2012
Ved uoverensstemmelse mellem cover og titel gælder titel

Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 2 Softcover reprint of the original 1st ed. 1976 edition

Pris
DKK 449

Bestilles fra fjernlager

Forventes klar til forsendelse 14. - 20. okt.
Modtag notifikation om nye Otto Meyer udgivelser
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
eller

Ikke bedømt endnu

The major topic of that and the present conference was the material analysis with ion beams including backscattering and channeling, nuclear reactions and ion induced X-rays with emphasis on technical problems and no vel applications.


508 pages, biography

Medie Bøger     Paperback Bog   (Bog med blødt omslag og limet ryg)
Udgivet 30. januar 2012
ISBN13 9781461588818
Forlag Springer-Verlag New York Inc.
Antal sider 491
Mål 178 × 254 × 26 mm   ·   879 g
Sprog Engelsk  
Klipper/redaktør Meyer, Otto

Mere med Otto Meyer

Vis alle

Andet i samme serie

Mere med samme udgiver