Fortæl dine venner om denne vare:
Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis Patrick Echlin Softcover reprint of the original 1st ed. 1986 edition
Pris
DKK 863
Bestilles fra fjernlager
Forventes klar til forsendelse 9. - 15. sep.
Modtag notifikation om nye Patrick Echlin udgivelser
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
eller
Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Patrick Echlin
This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec tron microscopy and x-ray microanalysis which have been taught annually at Lehigh University since 1972.
466 pages, 357 black & white illustrations, 7 colour illustrations, biography
| Medie | Bøger Paperback Bog (Bog med blødt omslag og limet ryg) |
| Udgivet | 8. juni 2013 |
| ISBN13 | 9781475790290 |
| Forlag | Springer-Verlag New York Inc. |
| Antal sider | 454 |
| Mål | 152 × 229 × 24 mm · 630 g |
| Sprog | Engelsk |
Mere med Patrick Echlin
Vis alleMere med samme udgiver
Se alt med Patrick Echlin ( f.eks. Hardcover bog og Paperback Bog )