Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis - Patrick Echlin - Bøger - Springer-Verlag New York Inc. - 9781475790290 - 8. juni 2013
Ved uoverensstemmelse mellem cover og titel gælder titel

Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis Softcover reprint of the original 1st ed. 1986 edition

Pris
DKK 863

Bestilles fra fjernlager

Forventes klar til forsendelse 9. - 15. sep.
Modtag notifikation om nye Patrick Echlin udgivelser
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
eller

Ikke bedømt endnu

This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec tron microscopy and x-ray microanalysis which have been taught annually at Lehigh University since 1972.


466 pages, 357 black & white illustrations, 7 colour illustrations, biography

Medie Bøger     Paperback Bog   (Bog med blødt omslag og limet ryg)
Udgivet 8. juni 2013
ISBN13 9781475790290
Forlag Springer-Verlag New York Inc.
Antal sider 454
Mål 152 × 229 × 24 mm   ·   630 g
Sprog Engelsk  

Mere med Patrick Echlin

Vis alle

Mere med samme udgiver