Electron Beam Testing Technology - Microdevices - John T L Thong - Bøger - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489915245 - 4. juni 2013
Ved uoverensstemmelse mellem cover og titel gælder titel

John T L Thong
Electron Beam Testing Technology - Microdevices Softcover reprint of the original 1st ed. 1993 edition

Pris
DKK 1.359

Bestilles fra fjernlager

Forventes klar til forsendelse 16. - 22. okt.
Modtag notifikation om nye John T L Thong udgivelser

Vores kunder siger:

14 dages fuld returret
Topvurdering på Trustpilot
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
eller

Ikke bedømt endnu

Findes også som:

Although exploratory and developmental activity in electron beam testing (EBT) 25 years, it was not had already been in existence in research laboratories for over until the beginning of the 1980s that it was taken up seriously as a technique for integrated circuit (IC) testing.

480 pages, black & white illustrations

Medie Bøger     Paperback Bog   (Bog med blødt omslag og limet ryg)
Udgivet 4. juni 2013
ISBN13 9781489915245
Forlag Springer-Verlag New York Inc.
Antal sider 462
Mål 178 × 254 × 24 mm   ·   825 g
Sprog Engelsk  
Klipper/redaktør Thong, John T.L.

Mere med samme udgiver

Se alt med John T L Thong