
Fortæl dine venner om denne vare:
High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability 2012 edition
Stephan Eggersgluss
Pris
₩ 186.625
Bestilles fra fjernlager
Forventes klar til forsendelse 29. aug. - 4. sep.
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
Eller
Findes også som:
High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability 2012 edition
Stephan Eggersgluss
This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel techniques to complement classical ATPG, based on Boolean Satisfiability (SAT). It presents a fast and highly fault efficient SAT-based ATPG framework.
193 pages, 52 black & white tables, biography
Medie | Bøger Paperback Bog (Bog med blødt omslag og limet ryg) |
Udgivet | 20. oktober 2014 |
ISBN13 | 9781489988478 |
Forlag | Springer-Verlag New York Inc. |
Antal sider | 193 |
Mål | 155 × 235 × 11 mm · 303 g |
Sprog | Engelsk |
Vis alle
Mere med Stephan Eggersgluss
Se alt med Stephan Eggersgluss ( f.eks. Hardcover bog , Paperback Bog og Bog )