High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability - Stephan Eggersgluss - Bøger - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489988478 - 20. oktober 2014
Ved uoverensstemmelse mellem cover og titel gælder titel

High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability 2012 edition

Stephan Eggersgluss

Pris
₩ 186.625

Bestilles fra fjernlager

Forventes klar til forsendelse 29. aug. - 4. sep.
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
Eller

Findes også som:

High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability 2012 edition

This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel techniques to complement classical ATPG, based on Boolean Satisfiability (SAT). It presents a fast and highly fault efficient SAT-based ATPG framework.


193 pages, 52 black & white tables, biography

Medie Bøger     Paperback Bog   (Bog med blødt omslag og limet ryg)
Udgivet 20. oktober 2014
ISBN13 9781489988478
Forlag Springer-Verlag New York Inc.
Antal sider 193
Mål 155 × 235 × 11 mm   ·   303 g
Sprog Engelsk  

Vis alle

Mere med Stephan Eggersgluss