Radiation-induced Soft Error: A Chip-level Modeling - Foundations and Trends (R) in Electronic Design Automation - Norbert Seifert - Bøger - now publishers Inc - 9781601983947 - 27. november 2010
Ved uoverensstemmelse mellem cover og titel gælder titel

Norbert Seifert
Radiation-induced Soft Error: A Chip-level Modeling - Foundations and Trends (R) in Electronic Design Automation

Få en e-mail når varen bliver tilgængelig
Har du en konto? Log ind
Julegaver kan byttes frem til 31. januar

Vores kunder siger:

14 dages fuld returret
Topvurdering på Trustpilot
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
eller

A simulation-based methodology of chip-level radiation-induced soft error rates that is fast and reasonably accurate is crucial to the reliability and success of a final product. This book summarises selected publications that are deemed relevant by the author to enable a truly chip-level radiation-induced soft error rate estimation methodology.

136 pages

Medie Bøger     Paperback Bog   (Bog med blødt omslag og limet ryg)
Udgivet 27. november 2010
ISBN13 9781601983947
Forlag now publishers Inc
Antal sider 136
Mål 157 × 234 × 8 mm   ·   199 g
Sprog Engelsk  

Se alt med Norbert Seifert ( f.eks. Paperback Bog )