Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology - IOP Concise Physics - David C. Cox - Bøger - Morgan & Claypool Publishers - 9781681740201 - 1. oktober 2015
Ved uoverensstemmelse mellem cover og titel gælder titel

Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology - IOP Concise Physics

David C. Cox

Pris
₪ 471,25

Bestilles fra fjernlager

Forventes klar til forsendelse 7. - 14. aug.

Vores kunder siger:

14 dages fuld returret
Topvurdering på Trustpilot
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
Eller

Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology - IOP Concise Physics

This book describes modern focused ion beam microscopes and techniques and how they can be used to aid materials metrology and as tools for the fabrication of devices that in turn are used in many other aspects of fundamental metrology.

104 pages

Medie Bøger     Paperback Bog   (Bog med blødt omslag og limet ryg)
Udgivet 1. oktober 2015
ISBN13 9781681740201
Forlag Morgan & Claypool Publishers
Antal sider 104
Mål 253 × 178 × 8 mm   ·   163 g
Sprog Engelsk  
Vis alle

Mere med David C. Cox

Se alt med David C. Cox ( f.eks. Hardcover bog og Paperback Bog )