Fortæl dine venner om denne vare:
Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Pierre-Richard Dahoo
Pris
Mex$ 4.128,75
Bestilles fra fjernlager
Forventes klar til forsendelse 21. - 28. aug.
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
Eller
Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Pierre-Richard Dahoo
256 pages
| Medie | Bøger Hardcover bog (Bog med hård ryg og stift omslag) |
| Udgivet | 16. marts 2021 |
| ISBN13 | 9781786306401 |
| Forlag | ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc |
| Antal sider | 256 |
| Mål | 10 × 10 × 10 mm · 526 g |
| Sprog | Engelsk |
