Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light - Dahoo, Pierre-Richard (University of Versailles Saint-Quentin, France) - Bøger - ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc - 9781848219366 - 12. august 2016
Ved uoverensstemmelse mellem cover og titel gælder titel

Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

Dahoo, Pierre-Richard (University of Versailles Saint-Quentin, France)

Pris
CA$ 302,49

Bestilles fra fjernlager

Forventes klar til forsendelse 21. - 28. nov.
Julegaver kan byttes frem til 31. januar

Vores kunder siger:

14 dages fuld returret
Topvurdering på Trustpilot
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
eller

Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.

316 pages, black & white illustrations

Medie Bøger     Hardcover bog   (Bog med hård ryg og stift omslag)
Udgivet 12. august 2016
ISBN13 9781848219366
Forlag ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc
Antal sider 320
Mål 165 × 241 × 23 mm   ·   612 g
Vis alle

Mere med Dahoo, Pierre-Richard (University of Versailles Saint-Quentin, France)

Se alt med Dahoo, Pierre-Richard (University of Versailles Saint-Quentin, France) ( f.eks. Hardcover bog )