Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method - Pierre-Richard Dahoo - Bøger - ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc - 9781786306876 - 6. april 2021
Ved uoverensstemmelse mellem cover og titel gælder titel

Pierre-Richard Dahoo
Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method

Pris
DKK 1.373

Bestilles fra fjernlager

Forventes klar til forsendelse 2. - 8. jan. 2026
Julegaver kan byttes frem til 31. januar

Vores kunder siger:

14 dages fuld returret
Topvurdering på Trustpilot
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
eller

288 pages

Medie Bøger     Hardcover bog   (Bog med hård ryg og stift omslag)
Udgivet 6. april 2021
ISBN13 9781786306876
Forlag ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc
Antal sider 288
Mål 150 × 220 × 20 mm   ·   562 g
Sprog Engelsk  

Mere med Pierre-Richard Dahoo

Vis alle

Se alt med Pierre-Richard Dahoo ( f.eks. Hardcover bog )