Fortæl dine venner om denne vare:
Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Pierre-Richard Dahoo
Pris
A$ 327,49
Bestilles fra fjernlager
Forventes klar til forsendelse 24. - 31. jul.
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
Eller
Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Pierre-Richard Dahoo
This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.
316 pages, black & white illustrations
| Medie | Bøger Hardcover bog (Bog med hård ryg og stift omslag) |
| Udgivet | 12. august 2016 |
| ISBN13 | 9781848219366 |
| Forlag | ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc |
| Antal sider | 316 |
| Mål | 165 × 241 × 23 mm · 612 g |
