Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults - Ireneusz Mrozek - Bøger - Springer Nature Switzerland AG - 9783030081980 - 1. februar 2019
Ved uoverensstemmelse mellem cover og titel gælder titel

Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults Softcover reprint of the original 1st ed. 2019 edition

Ireneusz Mrozek

Pris
€ 59,99

Bestilles fra fjernlager

Forventes klar til forsendelse 3. - 7. nov.
Julegaver kan byttes frem til 31. januar

Vores kunder siger:

14 dages fuld returret
Topvurdering på Trustpilot
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
eller

Findes også som:

Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults Softcover reprint of the original 1st ed. 2019 edition

This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory.

135 pages, 50 Tables, color; 34 Illustrations, black and white; X, 135 p. 34 illus.

Medie Bøger     Paperback Bog   (Bog med blødt omslag og limet ryg)
Udgivet 1. februar 2019
ISBN13 9783030081980
Forlag Springer Nature Switzerland AG
Antal sider 135
Mål 454 g
Sprog Tysk  

Se alt med Ireneusz Mrozek ( f.eks. Paperback Bog og Hardcover bog )