Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics - NanoScience and Technology - - Bøger - Springer Nature Switzerland AG - 9783030156145 - 25. august 2020
Ved uoverensstemmelse mellem cover og titel gælder titel

Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics - NanoScience and Technology 2019 edition

Pris
DKK 1.524

Bestilles fra fjernlager

Forventes klar til forsendelse 30. sep. - 6. okt.

Vores kunder siger:

14 dages fuld returret
Topvurdering på Trustpilot
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
eller

Ikke bedømt endnu

The tremendous impact of electronic devices on our lives is the result of continuous improvements of the billions of nanoelectronic components inside integrated circuits (ICs). This book reviews the latest progress in IC devices, with emphasis on the impact of electrical atomic force microscopy (AFM) techniques for their development.

408 pages, 60 Tables, color; 230 Illustrations, color; 26 Illustrations, black and white; XX, 408 p.

Medie Bøger     Paperback Bog   (Bog med blødt omslag og limet ryg)
Udgivet 25. august 2020
ISBN13 9783030156145
Forlag Springer Nature Switzerland AG
Antal sider 408
Mål 150 × 220 × 10 mm   ·   652 g
Sprog Tysk  
Klipper/redaktør Celano, Umberto

Mere med samme udgiver