Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques - Sebastian Huhn - Bøger - Springer Nature Switzerland AG - 9783030692117 - 20. april 2022
Ved uoverensstemmelse mellem cover og titel gælder titel

Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques 2021 edition

Pris
DKK 945

Bestilles fra fjernlager

Forventes klar til forsendelse 11. - 17. nov.
Julegaver kan byttes frem til 31. januar
Modtag notifikation om nye Sebastian Huhn udgivelser
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
eller

Ikke bedømt endnu

Findes også som:

This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated circuits, which can be successfully and reliably integrated, even in safety-critical applications.


164 pages, 75 Tables, color; 25 Illustrations, color; 22 Illustrations, black and white; XXI, 164 p.

Medie Bøger     Paperback Bog   (Bog med blødt omslag og limet ryg)
Udgivet 20. april 2022
ISBN13 9783030692117
Forlag Springer Nature Switzerland AG
Antal sider 164
Mål 150 × 220 × 10 mm   ·   296 g
Sprog Tysk  

Mere med Sebastian Huhn

Mere med samme udgiver