Fortæl dine venner om denne vare:
Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques Sebastian Huhn 2021 edition
Pris
DKK 945
Bestilles fra fjernlager
Forventes klar til forsendelse 11. - 17. nov.
Julegaver kan byttes frem til 31. januar
Modtag notifikation om nye Sebastian Huhn udgivelser
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
eller
Findes også som:
Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques
Sebastian Huhn
This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated circuits, which can be successfully and reliably integrated, even in safety-critical applications.
164 pages, 75 Tables, color; 25 Illustrations, color; 22 Illustrations, black and white; XXI, 164 p.
| Medie | Bøger Paperback Bog (Bog med blødt omslag og limet ryg) |
| Udgivet | 20. april 2022 |
| ISBN13 | 9783030692117 |
| Forlag | Springer Nature Switzerland AG |
| Antal sider | 164 |
| Mål | 150 × 220 × 10 mm · 296 g |
| Sprog | Tysk |