Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM - R.F. Egerton - Bøger - Springer International Publishing AG - 9783319398761 - 7. juli 2016
Ved uoverensstemmelse mellem cover og titel gælder titel

Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM 2nd ed. 2016 edition

R.F. Egerton

Pris
DKK 759

Bestilles fra fjernlager

Forventes klar til forsendelse 12. - 18. aug.
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
Eller

Findes også som:

Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM 2nd ed. 2016 edition

Scanning and stationary-beam electron microscopes are indispensable tools for both research and routine evaluation in materials science, the semiconductor industry, nanotechnology and the biological, forensic, and medical sciences.


207 pages, 109 black & white illustrations, 15 colour illustrations, biography

Medie Bøger     Hardcover bog   (Bog med hård ryg og stift omslag)
Udgivet 7. juli 2016
ISBN13 9783319398761
Forlag Springer International Publishing AG
Antal sider 196
Mål 165 × 243 × 22 mm   ·   471 g
Sprog Tysk  

Vis alle

Mere med R.F. Egerton