Fortæl dine venner om denne vare:
X-Ray Multiple-Wave Diffraction: Theory and Application - Springer Series in Solid-State Sciences Shih-Lin Chang 2004 edition
Pris
DKK 1.276
Bestilles fra fjernlager
Forventes klar til forsendelse 13. - 19. nov.
Julegaver kan byttes frem til 31. januar
Modtag notifikation om nye Shih-Lin Chang udgivelser
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
eller
Findes også som:
X-Ray Multiple-Wave Diffraction: Theory and Application - Springer Series in Solid-State Sciences
Shih-Lin Chang
X-ray multiple-wave diffraction, sometimes called multiple diffraction or N-beam diffraction, results from the scattering of X-rays from periodic two or higher-dimensional structures, like 2-d and 3-d crystals and even quasi crystals.
436 pages, biography
| Medie | Bøger Hardcover bog (Bog med hård ryg og stift omslag) |
| Udgivet | 24. juni 2004 |
| ISBN13 | 9783540211969 |
| Forlag | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm |
| Antal sider | 436 |
| Mål | 156 × 234 × 25 mm · 807 g |
| Sprog | Tysk |