Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology - - Bøger - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540262428 - 21. februar 2006
Ved uoverensstemmelse mellem cover og titel gælder titel

Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology

Pris
DKK 1.244

Bestilles fra fjernlager

Forventes klar til forsendelse 26. - 30. okt.

Vores kunder siger:

14 dages fuld returret
Topvurdering på Trustpilot
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
eller

Ikke bedømt endnu

Findes også som:

These were quickly followed by the M- netic Force Microscope, MFM, and the Electrostatic Force Microscope, EFM. There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.

464 pages, 263 black & white illustrations, 7 colour illustrations, 17 black & white tables

Medie Bøger     Hardcover bog   (Bog med hård ryg og stift omslag)
Udgivet 21. februar 2006
Oprindeligt udgivet 2005
ISBN13 9783540262428
Forlag Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Antal sider 420
Mål 155 × 235 × 22 mm   ·   771 g
Sprog Tysk  
Klipper/redaktør Bhushan, Bharat
Klipper/redaktør Fuchs, Harald

Mere med samme udgiver