Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology - Bharat Bhushan - Bøger - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540269090 - 22. februar 2006
Ved uoverensstemmelse mellem cover og titel gælder titel

Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology 2006 edition

Pris
DKK 1.243

Bestilles fra fjernlager

Forventes klar til forsendelse 30. dec. - 5. jan. 2026
Julegaver kan byttes frem til 31. januar
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
eller

There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.


378 pages, 268 black & white illustrations, 2 colour illustrations, 3 black & white tables, biograph

Medie Bøger     Hardcover bog   (Bog med hård ryg og stift omslag)
Udgivet 22. februar 2006
ISBN13 9783540269090
Forlag Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Antal sider 378
Mål 166 × 243 × 21 mm   ·   716 g
Sprog Tysk  
Klipper/redaktør Bhushan, Bharat
Klipper/redaktør Fuchs, Harald

Mere med Bharat Bhushan

Vis alle