Fortæl dine venner om denne vare:
Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology Bharat Bhushan 2006 edition
Pris
DKK 1.243
Bestilles fra fjernlager
Forventes klar til forsendelse 30. dec. - 5. jan. 2026
Julegaver kan byttes frem til 31. januar
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
eller
Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology
Bharat Bhushan
There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.
378 pages, 268 black & white illustrations, 2 colour illustrations, 3 black & white tables, biograph
| Medie | Bøger Hardcover bog (Bog med hård ryg og stift omslag) |
| Udgivet | 22. februar 2006 |
| ISBN13 | 9783540269090 |
| Forlag | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm |
| Antal sider | 378 |
| Mål | 166 × 243 × 21 mm · 716 g |
| Sprog | Tysk |
| Klipper/redaktør | Bhushan, Bharat |
| Klipper/redaktør | Fuchs, Harald |
Mere med Bharat Bhushan
Vis alleSe alt med Bharat Bhushan ( f.eks. Hardcover bog , Paperback Bog og Bog )