Applied Scanning Probe Methods: Characterization - Nanoscience and Technology - Donna R. Kemp - Bøger - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540373186 - 18. oktober 2006
Ved uoverensstemmelse mellem cover og titel gælder titel

Applied Scanning Probe Methods: Characterization - Nanoscience and Technology 1st edition

Donna R. Kemp

Pris
Mex$ 3.565

Bestilles fra fjernlager

Forventes klar til forsendelse 10. - 14. nov.
Julegaver kan byttes frem til 31. januar

Vores kunder siger:

14 dages fuld returret
Topvurdering på Trustpilot
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
eller

Applied Scanning Probe Methods: Characterization - Nanoscience and Technology 1st edition

Presents 10 chapters on a variety of techniques and refinements of Scanning Probe Methods (SPM) applications.

338 pages, 7 black & white tables, biography

Medie Bøger     Hardcover bog   (Bog med hård ryg og stift omslag)
Udgivet 18. oktober 2006
ISBN13 9783540373186
Forlag Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Antal sider 338
Mål 155 × 235 × 19 mm   ·   648 g
Sprog Engelsk  
Klipper/redaktør Bhushan, Bharat
Klipper/redaktør Fuchs, Harald
Klipper/redaktør Kawata, Satoshi
Vis alle

Mere med Donna R. Kemp

Se alt med Donna R. Kemp ( f.eks. Hardcover bog )