Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology - - Bøger - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642065699 - 12. februar 2010
Ved uoverensstemmelse mellem cover og titel gælder titel

Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2006 edition

Pris
DKK 922

Bestilles fra fjernlager

Forventes klar til forsendelse 7. - 13. okt.

Vores kunder siger:

14 dages fuld returret
Topvurdering på Trustpilot
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
eller

Ikke bedømt endnu

Findes også som:

These were quickly followed by the M- netic Force Microscope, MFM, and the Electrostatic Force Microscope, EFM. There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.

420 pages, 17 black & white tables, biography

Medie Bøger     Paperback Bog   (Bog med blødt omslag og limet ryg)
Udgivet 12. februar 2010
ISBN13 9783642065699
Forlag Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Antal sider 420
Mål 155 × 235 × 23 mm   ·   698 g
Sprog Tysk  
Klipper/redaktør Bhushan, Bharat
Klipper/redaktør Fuchs, Harald

Mere med samme udgiver