Fortæl dine venner om denne vare:
Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2006 edition
Pris
DKK 922
Bestilles fra fjernlager
Forventes klar til forsendelse 16. - 22. okt.
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
eller
Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology
There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.
378 pages, 268 black & white illustrations, 2 colour illustrations, 3 black & white tables, biograph
| Medie | Bøger Paperback Bog (Bog med blødt omslag og limet ryg) |
| Udgivet | 12. februar 2010 |
| ISBN13 | 9783642065965 |
| Forlag | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm |
| Antal sider | 378 |
| Mål | 155 × 235 × 21 mm · 639 g |
| Sprog | Tysk |
| Klipper/redaktør | Bhushan, Bharat |
| Klipper/redaktør | Fuchs, Harald |