Fortæl dine venner om denne vare:
Applied Scanning Probe Methods XII: Characterization - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2009 edition
Pris
DKK 925
Bestilles fra fjernlager
Forventes klar til forsendelse 19. - 25. nov.
Julegaver kan byttes frem til 31. januar
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
eller
Findes også som:
Applied Scanning Probe Methods XII: Characterization - NanoScience and Technology
Additi- ally they might be damaged by the electron beam of the microscope or the vacuum might cause outgasing of solvents or evaporation of water and thus change material properties.
279 pages, 14 black & white tables, biography
| Medie | Bøger Paperback Bog (Bog med blødt omslag og limet ryg) |
| Udgivet | 22. november 2010 |
| ISBN13 | 9783642098703 |
| Forlag | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm |
| Antal sider | 224 |
| Mål | 150 × 220 × 10 mm · 429 g |
| Sprog | Tysk |
| Klipper/redaktør | Bhushan, Bharat |
| Klipper/redaktør | Fuchs, Harald |