Scanning Probe Microscopy: Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy - NanoScience and Technology - Bert Voigtlander - Bøger - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783662505571 - 13. oktober 2016
Ved uoverensstemmelse mellem cover og titel gælder titel

Scanning Probe Microscopy: Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy - NanoScience and Technology Softcover reprint of the original 1st ed. 2015 edition

Bert Voigtlander

Pris
DKK 1.523

Bestilles fra fjernlager

Forventes klar til forsendelse 18. - 24. nov.
Julegaver kan byttes frem til 31. januar

Vores kunder siger:

14 dages fuld returret
Topvurdering på Trustpilot
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
eller

Scanning Probe Microscopy: Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy - NanoScience and Technology Softcover reprint of the original 1st ed. 2015 edition

This book explains the operating principles of atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. The aim of this book is to enable the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope.

397 pages, 41 black & white illustrations, 148 colour illustrations, biography

Medie Bøger     Paperback Bog   (Bog med blødt omslag og limet ryg)
Udgivet 13. oktober 2016
ISBN13 9783662505571
Forlag Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Antal sider 382
Mål 155 × 235 × 21 mm   ·   557 g
Sprog Tysk  
Vis alle

Mere med Bert Voigtlander

Se alt med Bert Voigtlander ( f.eks. Paperback Bog , Hardcover bog og Bog )