Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics - Peter Pichler - Bøger - Springer Verlag GmbH - 9783709172049 - 1. november 2012
Ved uoverensstemmelse mellem cover og titel gælder titel

Peter Pichler
Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics Softcover reprint of the original 1st ed. 2004 edition

Pris
DKK 2.515

Bestilles fra fjernlager

Forventes klar til forsendelse 7. - 13. jan. 2026
Julegaver kan byttes frem til 31. januar

Vores kunder siger:

14 dages fuld returret
Topvurdering på Trustpilot
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
eller

Findes også som:

This book contains the first comprehensive review of intrinsic point defects, impurities and their complexes in silicon.

554 pages, 40 black & white illustrations, biography

Medie Bøger     Paperback Bog   (Bog med blødt omslag og limet ryg)
Udgivet 1. november 2012
ISBN13 9783709172049
Forlag Springer Verlag GmbH
Antal sider 554
Mål 178 × 254 × 30 mm   ·   1,01 kg
Sprog Engelsk  

Mere med Peter Pichler

Vis alle

Se alt med Peter Pichler ( f.eks. Bog , Hardcover bog og Paperback Bog )