Fortæl dine venner om denne vare:
Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors: Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling - Springer Series in Advanced Microelectronics Softcover reprint of the original 1st ed. 2016 edition
Pris
DKK 862
Bestilles fra fjernlager
Forventes klar til forsendelse 6. - 12. jan. 2026
Julegaver kan byttes frem til 31. januar
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
eller
Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors: Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling - Springer Series in Advanced Microelectronics
269 pages, 17 Tables, black and white; 67 Illustrations, color; 134 Illustrations, black and white;
| Medie | Bøger Paperback Bog (Bog med blødt omslag og limet ryg) |
| Udgivet | 23. oktober 2016 |
| ISBN13 | 9788132234241 |
| Forlag | Springer, India, Private Ltd |
| Antal sider | 269 |
| Mål | 150 × 220 × 10 mm · 493 g |
| Klipper/redaktør | Mahapatra, Souvik |