Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis - Patrick Echlin - Bøger - Springer Science+Business Media - 9780306421402 - 31. marts 1986
Ved uoverensstemmelse mellem cover og titel gælder titel

Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis 1986 edition


Få en e-mail når varen bliver tilgængelig
Har du en konto? Log ind
Julegaver kan byttes frem til 31. januar
Modtag notifikation om nye Patrick Echlin udgivelser
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
eller

Ikke bedømt endnu

Findes også som:

This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec tron microscopy and x-ray microanalysis which have been taught annually at Lehigh University since 1972.


454 pages, biography

Medie Bøger     Hardcover bog   (Bog med hård ryg og stift omslag)
Udgivet 31. marts 1986
ISBN13 9780306421402
Forlag Springer Science+Business Media
Antal sider 454
Mål 156 × 234 × 27 mm   ·   721 g
Sprog Engelsk  

Mere med Patrick Echlin

Mere med samme udgiver