Fortæl dine venner om denne vare:
Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis Patrick Echlin 1986 edition
Har du en konto? Log ind
Julegaver kan byttes frem til 31. januar
Modtag notifikation om nye Patrick Echlin udgivelser
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
eller
Findes også som:
Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Patrick Echlin
This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec tron microscopy and x-ray microanalysis which have been taught annually at Lehigh University since 1972.
454 pages, biography
| Medie | Bøger Hardcover bog (Bog med hård ryg og stift omslag) |
| Udgivet | 31. marts 1986 |
| ISBN13 | 9780306421402 |
| Forlag | Springer Science+Business Media |
| Antal sider | 454 |
| Mål | 156 × 234 × 27 mm · 721 g |
| Sprog | Engelsk |