Fortæl dine venner om denne vare:
Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance, and Reliability - Frontiers in Electronic Testing 2008 edition
Mohammad Tehranipoor
Pris
DKK 1.275
Bestilles fra fjernlager
Forventes klar til forsendelse 13. - 19. nov.
Julegaver kan byttes frem til 31. januar
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
eller
Findes også som:
Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance, and Reliability - Frontiers in Electronic Testing 2008 edition
Mohammad Tehranipoor
Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance and Reliability covers various technologies that have been developing over the last decades such as chemically assembled electronic nanotechnology, Quantum-dot Cellular Automata (QCA), and nanowires and carbon nanotubes.
424 pages, 1, black & white illustrations
| Medie | Bøger Hardcover bog (Bog med hård ryg og stift omslag) |
| Udgivet | 10. december 2007 |
| ISBN13 | 9780387747460 |
| Forlag | Springer-Verlag New York Inc. |
| Antal sider | 408 |
| Mål | 155 × 235 × 23 mm · 811 g |
| Sprog | Engelsk |
| Klipper/redaktør | Tehranipoor, Mohammad |
Vis alle
Mere med Mohammad Tehranipoor
Se alt med Mohammad Tehranipoor ( f.eks. Hardcover bog og Paperback Bog )