Delay Fault Testing for VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing - Angela Krstic - Bøger - Springer - 9780792382959 - 31. oktober 1998
Ved uoverensstemmelse mellem cover og titel gælder titel

Delay Fault Testing for VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing 1998 edition

Angela Krstic

Pris
₪ 665

Bestilles fra fjernlager

Forventes klar til forsendelse 29. jul. - 4. aug.

Vores kunder siger:

14 dages fuld returret
Topvurdering på Trustpilot
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
Eller

Findes også som:

Delay Fault Testing for VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing 1998 edition

In that sense, this book is the best x DELAY FAULT TESTING FOR VLSI CIRCUITS available guide for an engineer designing or testing VLSI systems. Tech niques for path delay testing and for use of slower test equipment to test high-speed circuits are of particular interest.

191 pages, biography

Medie Bøger     Hardcover bog   (Bog med hård ryg og stift omslag)
Udgivet 31. oktober 1998
ISBN13 9780792382959
Forlag Springer
Antal sider 191
Mål 155 × 235 × 12 mm   ·   476 g
Sprog Engelsk  

Se alt med Angela Krstic ( f.eks. Hardcover bog og Paperback Bog )