Delay Fault Testing for VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing - Angela Krstic - Bøger - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461375616 - 12. oktober 2012
Ved uoverensstemmelse mellem cover og titel gælder titel

Delay Fault Testing for VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of the original 1st ed. 1998 edition

Angela Krstic

Pris
NOK 2.019

Bestilles fra fjernlager

Forventes klar til forsendelse 31. jul. - 6. aug.

Vores kunder siger:

14 dages fuld returret
Topvurdering på Trustpilot
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
Eller

Findes også som:

Delay Fault Testing for VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of the original 1st ed. 1998 edition

In that sense, this book is the best x DELAY FAULT TESTING FOR VLSI CIRCUITS available guide for an engineer designing or testing VLSI systems. Tech niques for path delay testing and for use of slower test equipment to test high-speed circuits are of particular interest.

191 pages, biography

Medie Bøger     Paperback Bog   (Bog med blødt omslag og limet ryg)
Udgivet 12. oktober 2012
Oprindeligt udgivet 1998
ISBN13 9781461375616
Forlag Springer-Verlag New York Inc.
Antal sider 191
Mål 155 × 235 × 11 mm   ·   299 g
Sprog Engelsk  

Se alt med Angela Krstic ( f.eks. Hardcover bog og Paperback Bog )