Fortæl dine venner om denne vare:
Scanning Electron Microscopy and X Ray Microanalysis Joseph Goldstein 3rd ed. 2003. Softcover reprint of the original 3r edition
Pris
DKK 944
Bestilles fra fjernlager
Forventes klar til forsendelse 17. - 23. dec.
Julegaver kan byttes frem til 31. januar
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
eller
Scanning Electron Microscopy and X Ray Microanalysis
Joseph Goldstein
This text provides students as well as practitioners with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. Topics discussed include user-controlled functions of scanning electron microscopes and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and quantitative analysis.
709 pages, biography
| Medie | Bøger Bog |
| Udgivet | 31. maj 2013 |
| ISBN13 | 9781461349693 |
| Forlag | Springer-Verlag New York Inc. |
| Antal sider | 689 |
| Mål | 255 × 182 × 43 mm · 1,22 kg |
| Sprog | Engelsk |
Vis alle
Mere med Joseph Goldstein
Andre har også købt
Se alt med Joseph Goldstein ( f.eks. Paperback Bog , Hardcover bog , Bog , CD og Orakelkort/tarotkort )