Scanning Electron Microscopy and X Ray Microanalysis - Joseph Goldstein - Bøger - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461349693 - 31. maj 2013
Ved uoverensstemmelse mellem cover og titel gælder titel

Scanning Electron Microscopy and X Ray Microanalysis 3rd ed. 2003. Softcover reprint of the original 3r edition

Pris
DKK 945

Bestilles fra fjernlager

Forventes klar til forsendelse 10. - 16. nov.
Julegaver kan byttes frem til 31. januar
Modtag notifikation om nye Joseph Goldstein udgivelser
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
eller

Ikke bedømt endnu

This text provides students as well as practitioners with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. Topics discussed include user-controlled functions of scanning electron microscopes and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and quantitative analysis.


709 pages, biography

Medie Bøger     Bog
Udgivet 31. maj 2013
ISBN13 9781461349693
Forlag Springer-Verlag New York Inc.
Antal sider 689
Mål 255 × 182 × 43 mm   ·   1,22 kg
Sprog Engelsk  

Mere med Joseph Goldstein

Mere med samme udgiver