
Fortæl dine venner om denne vare:
Hot-carrier Reliability of Mos Vlsi Circuits - the Springer International Series in Engineering and Computer Science Softcover Reprint of the Original 1st Ed. 1993 edition
Yusuf Leblebici
Pris
DKK 1.688
Bestilles fra fjernlager
Forventes klar til forsendelse 12. - 18. aug.
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
Eller
Findes også som:
Hot-carrier Reliability of Mos Vlsi Circuits - the Springer International Series in Engineering and Computer Science Softcover Reprint of the Original 1st Ed. 1993 edition
Yusuf Leblebici
229 pages, biography
Medie | Bøger Paperback Bog (Bog med blødt omslag og limet ryg) |
Udgivet | 27. september 2012 |
ISBN13 | 9781461364290 |
Forlag | Springer-Verlag New York Inc. |
Antal sider | 229 |
Mål | 155 × 235 × 13 mm · 335 g |
Sprog | Engelsk |
Se alt med Yusuf Leblebici ( f.eks. Hardcover bog og Paperback Bog )