Hot-carrier Reliability of Mos Vlsi Circuits - the Springer International Series in Engineering and Computer Science - Yusuf Leblebici - Bøger - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461364290 - 27. september 2012
Ved uoverensstemmelse mellem cover og titel gælder titel

Hot-carrier Reliability of Mos Vlsi Circuits - the Springer International Series in Engineering and Computer Science Softcover Reprint of the Original 1st Ed. 1993 edition

Yusuf Leblebici

Pris
HK$ 2.056,25

Bestilles fra fjernlager

Forventes klar til forsendelse 19. - 25. aug.

Vores kunder siger:

14 dages fuld returret
Topvurdering på Trustpilot
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
Eller

Findes også som:

Hot-carrier Reliability of Mos Vlsi Circuits - the Springer International Series in Engineering and Computer Science Softcover Reprint of the Original 1st Ed. 1993 edition

229 pages, biography

Medie Bøger     Paperback Bog   (Bog med blødt omslag og limet ryg)
Udgivet 27. september 2012
ISBN13 9781461364290
Forlag Springer-Verlag New York Inc.
Antal sider 229
Mål 155 × 235 × 13 mm   ·   335 g
Sprog Engelsk  

Se alt med Yusuf Leblebici ( f.eks. Hardcover bog og Paperback Bog )